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          第三代
          半導(dǎo)體測試家族
          Third generation semiconductor testing family
           
        
        
    
           
           
     
    
            
    
           
          
        
    
          
      
     
    
    
           
            
            
          
                  
          
                       
                       
           
                 
          
                 
          
           
                
                   

          
    
          
             
                     
                        
          
                            
          
                                
          
                                    
          
                                    
                                         
                                        
                                                   
                                    
          
                                    
          
                                    
          
                                    
          
                                
          
                            
          
                            
          
                                                        
                            
                            
                            
           
                        
          
             
          
             
          
                    
          
                             
          聯(lián)動(dòng)科技成功參展SEMICON CHINA 2018
          
                             
          
                             
           


          

                             
          
                             
          
                                                          
          
                    
          
             
          
    
            
    
          
    


   

          
	2018年3月14日至16日，Semicon China 2018在上海新國際展覽中心順利舉行。

          

          
	我公司展示了目前在半導(dǎo)體IC集成電路測試系統(tǒng)、Discrete測試系統(tǒng)和激光打標(biāo)系統(tǒng)的最新產(chǎn)品。包括：國內(nèi)自主研發(fā)首臺(tái)超大規(guī)模集成電路測試系統(tǒng)QT-9000，數(shù)位模擬混合信號IC測試系統(tǒng)QT-8200/8100，分立器件測試系統(tǒng)QT-6000和QT-4100測試平臺(tái)，全自動(dòng)IC打印檢測系統(tǒng)QH-APV5090等先進(jìn)設(shè)備。

          

          
	
          

          

          
	
          

          

          
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