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          第三代
          半導體測試家族
          Third generation semiconductor testing family
          首頁 產(chǎn)品中心 半導體測試 分立器件高速測試系統(tǒng)
          分類
          QT-6000 分立器件高速測試系統(tǒng)

          QT-6000分立器件高速測試機,適用于測試中小功率二三極管、場效應管等產(chǎn)品及晶圓,可拓展內(nèi)置電容測試(DC+CAP)、EAS、VC、pA模塊,也可擴展外掛LCR(超高精度電容測試)、Scanbox等,應用于FT量產(chǎn)測試或?qū)嶒炇覝y試。



          懸浮電源

          四象限電路

          高速測試

          支持多種擴展

          型號 QT-6000
          產(chǎn)品優(yōu)勢 ? QT-6000分立器件高速測試機,具備測試精度高、測試速度快、穩(wěn)定性好、可靠性高、抗干擾能力強等性能優(yōu)點。
          ? 采用四象限電路,可以很好的保護被測器件。
          ? 采用懸浮電源和全對稱結(jié)構(gòu)。
          ? 高速測試滿足UPH56K以上的分選機。
          主要特點 ? 高速測試,UPH>40K
          ? 可一拖二實現(xiàn)100% FT+QA并行測試
          ? 先進的電容高速測試方案,實現(xiàn)CAP+DC同工位測試
          ? 內(nèi)置UIS測試方案,實現(xiàn)DC+UIS同工位測試

          ? LCR精準電容測試,最小測試電容值100fF

          電壓/電流(可選): 1200V/600V, 30A/ 10A/3A。





          Testing standards檢測標準
          Recommend推薦產(chǎn)品
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