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          第三代
          半導(dǎo)體測試家族
          Third generation semiconductor testing family
          首頁 產(chǎn)品中心 半導(dǎo)體測試 功率器件測試系統(tǒng)
          分類
          QT-3101 UIL 雪崩測試

          QT-3101 UIL 雪崩測試適用于測試 MOSFET、IGBT、二極管的雪崩參數(shù)



          支持雙DIE

          快速充電

          失效波形保存

          鉗壓功能

          型號 QT-3101 UIL
          產(chǎn)品優(yōu)勢 支持 VDD ON(E=1/2L*I*I*BVDSS/(BVDSS-VDD))或VDD OFF(E=1/2*L*I*I) 測試
          可與 QT-4100B 共用一臺電腦,實現(xiàn)測試程序和數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理
          可設(shè)定單脈沖、多脈沖或者雙 MOSFET 測試
          輸出電流IDMAX 實時測量監(jiān)控和Energy讀取
          電感內(nèi)阻低,ID充電快,測試時間更短
          內(nèi)置示波器
          主要特點 ? 輸出測量能力:最大測量 BVdss:±3000V 最大輸出 ID:±150V 、±200A
          ? 可編輯 VG MAX:±30V脈寬調(diào)節(jié)(分辨率:1us)
          ? 可編程電感箱負(fù)載 10μH-159.9mH 步進(jìn) 10μH
          ? 可編程分選機接口信號 24 個




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