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          第三代
          半導(dǎo)體測(cè)試家族
          Third generation semiconductor testing family
           
        
        
    
           
           
     
    
            
    
           
          
        
    
          
      
     
    
    
           
            
            
          
                  
          
                       
                       
           
                 
          
                 
          
           
                
                   

          
    
          
             
                     
                        
          
                            
          
                                
          
                                    
          
                                    
                                         
                                        
                                                   
                                    
          
                                    
          
                                    
          
                                    
          
                                
          
                            
          
                            
          
                                                        
                            
                            
                            
           
                        
          
             
          
             
          
                    
          
                             
          聯(lián)動(dòng)科技成功參展SEMICON CHINA 2016
          
                             
          
                             
           


          

                             
          
                             
          
                                                          
          
                    
          
             
          
    
            
    
          
    


   

          
	2016年3月15-17日，聯(lián)動(dòng)科技在為期三天的面向全球半導(dǎo)體同行的旗艦展會(huì)SEMICON上，向新老客戶展示了公司目前在半導(dǎo)體IC集成電路和Discete測(cè)試系統(tǒng)，激光打標(biāo)系統(tǒng)和視像檢測(cè)系統(tǒng)類的最新產(chǎn)品。包括：QT-8200/8100模擬數(shù)字混合信號(hào)IC測(cè)試系統(tǒng)；QT-6166C1S高速測(cè)試系統(tǒng)（內(nèi)置LCR模組）；綜合測(cè)試平臺(tái)（RG/雪崩/熱阻/DC）；視像定位打標(biāo)機(jī)等。

          

          
	
          

          

          
	
          

          

          
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