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          第三代
          半導體測試家族
          Third generation semiconductor testing family
           
        
        
    
           
           
     
    
            
    
      
     
    
    
           
            
            
          
                  
                 
          
           
                
                   

          
    
          
             
                     
                        
          
                            
          
                                
          
                                    
          
                                    
                                                        
                                                    
                      
                                 
                
                
                
                
                                        
                                                   
                                    
          
                                    
          
                                    
          
                                    
          
                                
          
                            
          
                            
          
                                                        
                            
                            
                            
           
                        
          
             
          
             
          
                    
          
                             
          Prober
          
                             
          適用于6、8″Si、SiC分立器件、功率器件、集成電路、射頻器件、光芯片等晶圓的自動探針測試。
自動上下片，Wafer ID讀取。
全自動CCD視覺對針定位。
高精度定位平臺。
支持常高溫測試。
實時生成Mapping顯示Bin。
通用GPIB、TTL、R-232接口。
          
                             
           


          

          

          
	
		
          
			
				
          
					 
				
          
				
          
					懸浮電源
				
          
			          		
			
				
          
					 
				
          
				
          
					多Site并行
				
          
			          		
			
				
          
					 
				
          
				
          
					多通道高精度
				
          
			          		
			
				
          
					 
				
          
				
          
					支持多種擴展
				
          
			          		
		
          
	          

          
                             
          
                             
          
                                                          
          
                    
          
             
          
    
            
    
          
    

          
	
		
          
			
				型號 
			
			
				Prober
			
		
          
		
          
			
				產(chǎn)品介紹 
			
			
				適用于6、8″Si、SiC分立器件、功率器件、集成電路、射頻器件、光芯片等晶圓的自動探針測試。
自動上下片，Wafer ID讀取。 
          
			          		
		
          
		
          
			
				功能 
			
			
				? 全自動CCD視覺對針定位。
          
       ? 高精度定位平臺。
          
       ? 支持常高溫測試。
          
       ? 實時生成Mapping顯示Bin。
          
       ? 通用GPIB、TTL、R-232接口。
          
			          		
		
          
	          

          

          
                         
          

   
    
               
  
                
                
    
          
    
    
    
    
    
    
     
     
      

          

              
                 
          
            
          
            
    
          
    
    
    

            

  

  

          
            
          
            
          
            
          

          
 
  

          



    

  
 












          
    
    

          


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