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          第三代
          電晶體測試家族
          Third generation semiconductor testing family
          分類
          KGD handler

          全自動測試,支援SiC晶圓、Waffle Pack、Tape&Reel上料與下料。 多工位並行測試,不同工位支援不同溫度與測試項目。 靜態(tài)、動態(tài)、雪崩功能測試,且測試順序可調。 高溫預熱與晶片表面防氧化保護。 高溫測試,溫度範圍:室溫~200°C。 加電針卡為密封設計,支援充氮氣保護防高壓打火與氮氣壓力監(jiān)測。



          懸浮電源

          多Site並行

          多通道高精度

          支援多種擴展

          型號 KGD handler
          產品介紹 全自動測試,支援SiC晶圓、Waffle Pack、Tape&Reel上料與下料。
          功能 ? 多工位並行測試,不同工位支援不同溫度與測試項目。
          ? 靜態(tài)、動態(tài)、雪崩功能測試,且測試順序可調。
          ? 高溫預熱與晶片表面防氧化保護。
          ? 高溫測試,溫度範圍:室溫~200°C。
          ? 加電針卡為密封設計,支援充氮氣保護防高壓打火與氮氣壓力監(jiān)測。




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