第三代
電晶體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
Prober
適用於6、8″Si、SiC分立元件、功率元件、積體電路、射頻元件、光晶片等晶圓的自動(dòng)探針測試。 自動(dòng)上下片，Wafer ID讀取。 全自動(dòng)CCD視覺對針定位。 高精度定位平臺(tái)。 支援常高溫測試。 即時(shí)產(chǎn)生Mapping顯示Bin。 通用GPIB、TTL、R-232介面。
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懸浮電源 |
多Site並行 |
多通道高精度 |
支援多種擴(kuò)展 |
| 型號(hào) | Prober |
| 產(chǎn)品介紹 |
適用於6、8″Si、SiC分立元件、功率元件、積體電路、射頻元件、光晶片等晶圓的自動(dòng)探針測試。
自動(dòng)上下片，Wafer ID讀取。 |
| 功能 |
? 全自動(dòng)CCD視覺對針定位。 ? 高精度定位平臺(tái)。 ? 支援常高溫測試。 ? 即時(shí)產(chǎn)生Mapping顯示Bin。 ? 通用GPIB、TTL、R-232介面。 |
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中國廣東省佛山市南海國家高新區(qū)新光源產(chǎn)業(yè)基地光明大道16號(hào) |
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