第三代
電晶體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-4100 綜合測(cè)試系統(tǒng)
適用於三極管、二極體、齊納二極體、MOS-FET（IGBT、SIC 氮化鎵）、J-FET、Current Sense FET、LDO（78XX、79XX、TL431、TL432常規(guī)測(cè)試）、光電耦合器等產(chǎn)品及晶 圓。 可擴(kuò)充：可控矽測(cè)試、SCANBOX、Dual Gate-FET、Q Plus 、三極管開(kāi)關(guān)時(shí)間（TST， TR ，TF， TON）、熱阻測(cè)試（DVDS， DVCE， DVBE，DVF）等
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限壓限流 |
高精度Rdon測(cè)試 |
模組化功能 |
多站資料合併 |
| 型號(hào) | QT-4100 綜合測(cè)試系統(tǒng) |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) |
測(cè)量防呆：電壓、電流測(cè)量自動(dòng)自檢，異常自動(dòng)報(bào)警停機(jī)測(cè)量防呆：電壓、電流測(cè)量自動(dòng)自我檢測(cè)，異常自動(dòng)警報(bào)停機(jī) LOW RDON 快速自我檢測(cè)：無(wú)需外接負(fù)載，2分鐘完成自我檢測(cè) 第三人校準(zhǔn)：採(cǎi)用Agilent 34401A進(jìn)行校準(zhǔn) 內(nèi)建示波器功能 支援多工位設(shè)備數(shù)據(jù)合併 |
| 主要特點(diǎn) |
? 繼電器3ms； ? 限壓限流保護(hù)； ? 支援?dāng)U展EAS，LCR，熱阻，SW，TRR，QG； ? 填表式程式設(shè)計(jì)； ? 支援PAT功能； ? 具備SECS/GEM標(biāo)準(zhǔn)介面 |
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