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          第三代
          電晶體測試家族
          Third generation semiconductor testing family
          首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測試 分立器件高速測試系統(tǒng)
          分類
          QT-6000 分立元件高速測試系統(tǒng)

          QT-6000分立元件高速測試機(jī),適用於測試中小功率二三極體、場效電晶體等產(chǎn)品及晶圓,可拓展內(nèi)建電容測試(DC+CAP)、EAS、VC、pA模組,也可擴(kuò)充外掛LCR( 超高精度電容測試)、Scanbox等,應(yīng)用於FT量產(chǎn)測試或?qū)嶒?yàn)室測試。



          懸浮電源

          四象限電路

          高速測試

          支援多種擴(kuò)展

          型號(hào) QT-6000
          產(chǎn)品優(yōu)勢 ? QT-6000分立元件高速測試機(jī),具備測試精度高、測試速度快、穩(wěn)定性好、可靠性高、抗干擾能力強(qiáng)等性能優(yōu)點(diǎn)。
          ? 採用四象限電路,可以很好的保護(hù)被測元件。
          ? 採用懸浮電源和全對稱結(jié)構(gòu)。
          ? 高速測試滿足UPH56K以上的分選機(jī)。
          主要特點(diǎn) ? 高速測試,UPH>40K
          ? 可一拖二實(shí)現(xiàn)100% FT+QA平行測試
          ? 先進(jìn)的電容高速測試方案,實(shí)現(xiàn)CAP+DC同工位測試
          ? 內(nèi)建UIS測試方案,實(shí)現(xiàn)DC+UIS同工位測試
          ? LCR精準(zhǔn)電容測試,最小測試電容值100fF






          Testing standards檢測標(biāo)準(zhǔn)


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