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          第三代
          電晶體測(cè)試家族
          Third generation semiconductor testing family
          分類
          QT-8100 數(shù)?;旌螴C測(cè)試系統(tǒng) (Cable-Mount)

          適用於常規(guī)DC、AC參數(shù)測(cè)試及混合類及模擬類IC元件功能性測(cè)試。 主要測(cè)試:電源管理類,數(shù)位消費(fèi)類,馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類,音頻放大器、運(yùn)算等。



          懸浮電源

          多Site並行

          多通道高精度

          支援多種擴(kuò)展

          型號(hào) QT-8100
          產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

          數(shù)模混合IC測(cè)試系統(tǒng)適用於常規(guī)DC、AC參數(shù)測(cè)試及混合類及模擬類IC元件功能性測(cè)試。 主要測(cè)試:電源管理類,數(shù)位消費(fèi)類,馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類,音頻放大器、運(yùn)算等

          主要特點(diǎn) ? 懸浮V/I源,四象限
          ? 由測(cè)試盒引出全資源,8site並測(cè)
          ? 數(shù)位速率100Mhz,向量深度8M
          ? 真並測(cè),多路1000V/20A高壓大電流
          ? 18 bit 高精密採(cǎi)樣
          ? 20 個(gè)類比插槽(Max 216通道)/ 8 個(gè)數(shù)位插槽( Max 128通道)
          ? 多通道高精度時(shí)間測(cè)量單元,支援ns等級(jí)時(shí)間測(cè)量
          ? 支援RF模組擴(kuò)充
          ? PCIE 卡,測(cè)試效率更高






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