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          QT-3108SW 動態(tài)測試方案

          低雜訊 247/TPAK 動態(tài)測試方案:由 QT-3108SW 動態(tài)測試系統(tǒng)與重力式分選機(jī)組成。
          支援 TO247/TPAK SIC MOS IGBT 封裝元件動態(tài)參數(shù)測試。

          多重安全保護(hù)
            支援過載欠壓保護(hù)
            RG 1-512線性可調(diào)
            負(fù)載電感10-1100uH步進(jìn)10uH
            短路保護(hù)<1us
            支援KGD測試針卡保護(hù)電路
          測試需求,全方位覆蓋

          QT-3108SW功能齊全,支援SW、ISC 、TRR(系列參數(shù))、
          ILATCH、SCSOA、QG參數(shù)測試,選配UIS。

          應(yīng)用環(huán)境

          測試應(yīng)用板與分選機(jī)直連

          開通/關(guān)斷延遲TDON / TDOFF

          測量範(fàn)圍:0~2us
          穩(wěn)定度:±3%

          上升/下降時間TR / TF

          測量範(fàn)圍:0~2us
          穩(wěn)定度:±3%

          反向恢復(fù)時間TRR

          測量範(fàn)圍:0~5us
          穩(wěn)定度:±3%

          反向恢復(fù)電荷QRR

          測量範(fàn)圍:0~10uC;
          穩(wěn)定度:±3%

          總柵電荷QG

          測量範(fàn)圍:0~100uC;
          穩(wěn)定度:±3%

          短路電流SCSOA

          測量範(fàn)圍:0~5000 A;
          穩(wěn)定度:±3%

          鉗住電流ILATCH

          測量範(fàn)圍:25~1000 A;
          穩(wěn)定度:±3%

          閾值電壓VTH

          測量範(fàn)圍:0~10.0V;
          穩(wěn)定度:±3%



          < 30nH
          雜散電感
          整合化測試,
          解決線材分佈電感引起測試結(jié)果不良

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