

第三代
電晶體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類

QT-3101 UIL 雪崩測試
QT-3101 UIL 雪崩測試適用於測試MOSFET、IGBT、二極體的雪崩參數(shù)
支援雙DIE |
快速充電 |
失效波形保存 |
鉗壓功能 |
型號 | QT-3101 UIL |
產(chǎn)品優(yōu)勢 |
支援VDD ON(E=1/2L*I*I*BVDSS/(BVDSS-VDD))或VDD OFF(E=1/2*L*I*I)測試 內(nèi)建示波器 極限能量掃描測試 可設定單脈衝、多重脈衝或雙MOSFET測試 可與QT-4100B共用一臺電腦,實現(xiàn)測試程式與資料統(tǒng)一管理 |
主要特點 |
? 輸出測量能力:最大測量BVdss:±3000V最大輸出ID:±150V 、±200A ? 可編輯VG MAX:±30V脈寬調(diào)節(jié)(解析度:1us) ? 可程式電感箱負載10μH-159.9mH步進10μH ? 可程式分選機介面訊號24個 |
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中國廣東省佛山市南海國家高新區(qū)新光源產(chǎn)業(yè)基地光明大道16號 |
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+86 757 83207313 (銷售) |
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