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          第三代
          半導體測試家族
          Third generation semiconductor testing family
          首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測試 功率器件測試系統(tǒng)
          分類
           
          KGD(Known Good Die)測試解決方案

          支援高溫常溫測試:DC+SW+UIL+DC&RG; 支援測試針卡保護方案; 提供測試+分選整套方案;



          針卡保護

          兩顆並測

          高溫常溫

          數(shù)據(jù)合併

          型號 KGD測試解決方案
          產(chǎn)品優(yōu)勢 ? 低雜散解決方案;
          ? 獨家針卡保護專利技術;
          ? 過載欠壓保護;
          ? 一次測試兩顆晶片;
          ? 支援高溫加熱




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