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          第三代
          半導(dǎo)體測試家族
          Third generation semiconductor testing family
          首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測試 功率器件測試系統(tǒng)
          分類
           
          QT-4100 綜合測試系統(tǒng)

          適用於三極管、二極體、齊納二極體、MOS-FET(IGBT、SIC 氮化鎵)、J-FET、Current Sense FET、LDO(78XX、79XX、TL431、TL432常規(guī)測試)、光電耦合器等產(chǎn)品及晶 圓。 可擴(kuò)充:可控矽測試、SCANBOX、Dual Gate-FET、Q Plus 、三極管開關(guān)時(shí)間(TST, TR ,TF, TON)、熱阻測試(DVDS, DVCE, DVBE,DVF)等



          限壓限流

          高精度Rdon測試

          模組化功能

          多站資料合併

          型號 QT-4100 綜合測試系統(tǒng)
          產(chǎn)品優(yōu)勢 測量防呆:電壓、電流測量自動(dòng)自檢,異常自動(dòng)報(bào)警停機(jī)測量防呆:電壓、電流測量自動(dòng)自我檢測,異常自動(dòng)警報(bào)停機(jī)
          LOW RDON
          快速自我檢測:無需外接負(fù)載,2分鐘完成自我檢測
          第三人校準(zhǔn):採用Agilent 34401A進(jìn)行校準(zhǔn)
          內(nèi)建示波器功能
          支援多工位設(shè)備數(shù)據(jù)合併
          主要特點(diǎn) ? 繼電器3ms;
          ? 限壓限流保護(hù);
          ? 支援?dāng)U展EAS,LCR,熱阻,SW,TRR,QG;
          ? 填表式程式設(shè)計(jì);
          ? 支援PAT功能;
          ? 具備SECS/GEM標(biāo)準(zhǔn)介面


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