第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-3101 UIL 雪崩測(cè)試
QT-3101 UIL 雪崩測(cè)試適用於測(cè)試MOSFET、IGBT、二極體的雪崩參數(shù)
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支援雙DIE |
快速充電 |
失效波形保存 |
鉗壓功能 |
| 型號(hào) | QT-3101 UIL |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) |
支援VDD ON(E=1/2L*I*I*BVDSS/(BVDSS-VDD))或VDD OFF(E=1/2*L*I*I)測(cè)試 內(nèi)建示波器 極限能量掃描測(cè)試 可設(shè)定單脈衝、多重脈衝或雙MOSFET測(cè)試 可與QT-4100B共用一臺(tái)電腦，實(shí)現(xiàn)測(cè)試程式與資料統(tǒng)一管理 |
| 主要特點(diǎn) |
? 輸出測(cè)量能力：最大測(cè)量BVdss:±3000V最大輸出ID:±150V 、±200A ? 可編輯VG MAX:±30V脈寬調(diào)節(jié)（解析度：1us） ? 可程式電感箱負(fù)載10μH-159.9mH步進(jìn)10μH ? 可程式分選機(jī)介面訊號(hào)24個(gè) |
Recommend推薦產(chǎn)品
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中國(guó)廣東省佛山市南海國(guó)家高新區(qū)新光源產(chǎn)業(yè)基地光明大道16號(hào) |
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0757 83207313 (銷售) |
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