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						QT-8400功率器件多Site測(cè)試系統(tǒng)
					
          
					
          
						探索第三代電晶體的無限可能
					
          
				
          
			
          
		
          
		
          
			
          
			
          
			
          
				 
			
          
			
          
				
          
					 
				
          
				
          
					 
					
          
						測(cè)試主機(jī)
					
          
				
          
				
          
					 
					
          
						GaN
					
          
				
          
				
          
					 
					
          
						Power Device
					
          
				
          
				
          
					
          
						QT-8400由測(cè)試主機(jī)與測(cè)試站Test Kit組成，
          
                其中Test Kit分為兩種： Power Device Test Kit & GaN Test Kit。
					
          
				
          
			
          
		
          
	
          
	
          
		
          
		
          
		
          
		
          
	
          

          
            

          
	
          
		
          
			
          
				
          
					Test Kit
				
          
				
          
					可根據(jù)需求進(jìn)行選擇
				
          
			
          
		
          
	
          
	
          
		                                                                
	
          

          
             
             

          
	
          
		
          
			
          
				
            
					
          • 
						
            
							
            
								 
							
            
							
            
								
            
									Power Device Test Kit
								
            
								
            
									面向MOSFET/SIC、二極體、三極管等CP測(cè)試需求的 Power Device Test Kit.
								
            
							
            
						
            
					
            • 
					
          • 
						
            
							
            
								 
							
            
							
            
								
            
									GaN Test Kit
								
            
								
            
									面向氮化鎵測(cè)試需求的 GaN Test Kit.
								
            
							
            
						
            
					
            • 
				
          
			
          
		
          
	
          

          
             
            

          
	
          
		
          
			                               
			
          
				
          
					105cm
				
          
				
          
					站姿鍵盤高度
				
          
                                
			
          
			
          
				
          
					75cm  
				
          
				
          
					坐姿鍵盤高度
				
          
                                
			
          
		
          
		
          
		
          
		
          
			
          
				
          
					創(chuàng)新標(biāo)識(shí)設(shè)計(jì)
          
               站坐快速切換
				
          
			
          
			
          
				
          
					觸動(dòng)人心的
          
                用戶體驗(yàn)
				
          
				
          
					8400主機(jī)殼從人體工學(xué)設(shè)計(jì)出發(fā)針對(duì)設(shè)計(jì)公司、實(shí)驗(yàn)室和封測(cè)廠等不同環(huán)境場(chǎng)所，滿足了用戶站姿與坐姿不同狀態(tài)下的鍵盤操作使用需求，我們?cè)O(shè)計(jì)了獨(dú)有的指引標(biāo)識(shí)線，能讓用戶快速的找到站立或坐姿時(shí)推薦的鍵盤高度，也可根據(jù)個(gè)人身高差異自行微調(diào)，極大提升了操作舒適性和效率。
					
          
						* 已申請(qǐng)專利 
					
          
				
          
			
          
		
          
	
          

          
                
             

          
	
          
		
          
			
          
				創(chuàng)新標(biāo)識(shí)設(shè)計(jì)
          
                站坐快速切換
			
          
		
          
		
          
			                    
                    
		
          
	
          

          
             
            

          
	
          
		
          
			
          
				觸動(dòng)人心的
          
                 使用者體驗(yàn)
			
          
			
          
				8400主機(jī)殼從人體工學(xué)設(shè)計(jì)出發(fā)針對(duì)設(shè)計(jì)公司、實(shí)驗(yàn)室和封測(cè)廠等不同環(huán)境場(chǎng)所，滿足了用戶站姿與坐姿不同狀態(tài)下的鍵盤操作使用需求，我們?cè)O(shè)計(jì)了獨(dú)有的指引標(biāo)識(shí)線，能讓用戶快速的找到站立或坐姿時(shí)推薦的鍵盤高度，也可根據(jù)個(gè)人身高差異自行微調(diào)，極大提升了操作舒適性和效率。
				
          
					* 已申請(qǐng)專利 
				
          
			
          
		
          
		
          
			
                                         
			
          
				
          
					105cm
				
          
				
          
					站姿鍵盤高度
				
          
                     
			
          
		
          
	
          

          
             
             

          
	
          
		
          
			
                                                 
			
          
				
          
					75cm  
				
          
				
          
					坐姿鍵盤高度
				
          
                         
			
          
		
          
	
          

          
             
            

          
	
          
		
          
			
          
				並行測(cè)試，效率倍增
			
          
			
          
				支持2/4/8/16 Site並行測(cè)試，滿足客戶對(duì)更高測(cè)試效率的需求。
			
          
		
          
		
          
			
		
          
	
          

          
             
    

          
	
          
		
          
			
          
				測(cè)試需求，全方位覆蓋
			
          
			
          
				QT-8400 整機(jī)提供 20A/100A、1KV/2KV 的技術(shù)指標(biāo)，能夠滿足大多數(shù)第三代半導(dǎo)體的測(cè)試需求。 如果客戶有更高規(guī)格的需求，我們也支援?dāng)U充高壓/直流模組，最高可達(dá) 8KV, 2000A。 對(duì)於有動(dòng)態(tài)測(cè)試需求的用戶，我們還提供雪崩、RGCG，動(dòng)態(tài) RDson 等模組的擴(kuò)展，並規(guī)劃未來相容更多的動(dòng)態(tài)測(cè)試模組。
			
          
		
          
		
          
			
          
				
          
					
						
          
							
								
          
									QT-8400 GaN
								
          
							          		
							
								
          
									QT-8400 D
								
          
							          		
						
          
						
          
							
								
          
									測(cè)試範(fàn)圍
								
          
								
          
									專用於氮化鎵動(dòng)靜態(tài)電參數(shù)測(cè)試
								
          
							          		
							
								
          
									測(cè)試範(fàn)圍
								
          
								
          
									專用於 MOSFET/SIC 、二極體、三極管、IGBT等 CP測(cè)試。
								
          
							          		
						
          
						
          
							
								
          
									參數(shù)指標(biāo)
								
          
								
          
									懸浮 V/I 源
          
                                                                        電壓 1KV/2KV
          
                                                                        20-100A；
								
          
							          		
							
								
          
									參數(shù)指標(biāo)
								
          
								
          
									懸浮 V/I 源
          
                                                               電壓1KV/2KV/3KV
          
                                                                20-100A/200A
								
          
							          		
						
          
						
          
							
								
          
									平行測(cè)試數(shù)
								
          
								
          
									2/4/8/16 Site
								
          
							          		
							
								
          
									平行測(cè)試數(shù)
								
          
								
          
									2/4/8/16 Site
								
          
							          		
						
          
						
          
							
								
          
									可擴(kuò)充動(dòng)態(tài)模組
								
          
								
          
									LCR測(cè)試模組（CG）
          
                           動(dòng)態(tài) RDSON 模組（支援硬切和軟切）
								
          
							          		
							
								
          
									可擴(kuò)充動(dòng)態(tài)模組
								
          
								
          
									雪崩測(cè)試模組（UIS、EAS） 
          
                                                              LCR測(cè)試模組（RG、CG）
								
          
							          		
						
          
						
          
							
								
          
									可擴(kuò)充高壓/直流模組
								
          
								
          
									最高可擴(kuò)展8KV, 2KA
								
          
							          		
							
								
          
									可擴(kuò)充高壓/直流模組
								
          
								
          
									最高可擴(kuò)展8KV, 2KA
								
          
							          		
						
          
						
          
							
								
          
									精準(zhǔn)測(cè)量
								
          
								
          
									Power Device Test Kit內(nèi)建精密測(cè)量電路，實(shí)現(xiàn)nA級(jí)和mΩ級(jí)的精準(zhǔn)測(cè)量。
								
          
							          		
							
								
          
									精準(zhǔn)測(cè)量
								
          
								
          
									GaN Test Kit內(nèi)建精密測(cè)量電路，實(shí)現(xiàn)nA級(jí)和mΩ級(jí)的精準(zhǔn)測(cè)量。
								
          
							          		
						
          
					          
				
          
			
          
		
          
	
          

          
             
 
             

          
	
          
		
          
			
          
				
          
					闆卡資源靈活搭配
				
          
				
          
					我們的設(shè)備採用可插拔式闆卡架構(gòu)，讓您可以根據(jù)需求靈活搭配闆卡，從而實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)把控測(cè)試成本。
				
          
			
          
			
          
				  
			
          
		
          
	
          

          
             
             

          
	
          
		
          
			
          
				功能全面，滿足各類需求
			
          
			
          
				測(cè)試主機(jī)闆卡均為四象限V/I源，配備AWG及示波器，功能全面，滿足如 I-V 曲線等各類掃描測(cè)試需求。
			
          
		
          
		
          
			
          
				 
			
          
			
          
				內(nèi)建示波器圖
			
          
			
          
				 
			
          
			
          
				AWG編輯器
			
          
		
          
	
          

          
             


          
	
          
		
          
			
          
				PTS OS 直覺易用，
          
                專為測(cè)試&生產(chǎn)而設(shè)計(jì)
			
          
			
          
				我們對(duì) QT-8400 PTS OS 軟體介面全面優(yōu)化，以提升實(shí)用性、美觀性和易用性。 大幅提高測(cè)試開發(fā)、生產(chǎn)以及調(diào)試校準(zhǔn)效率，使用戶輕鬆上手高效操作。
			
          
		
          
		
          
			
          
				 
			
          
			
          
				 
			
          
			
          
				 
			
          
		
          
		
          
			* 已申請(qǐng)專利 
		
          
	
          

          
                
    
    

            

  

  

          
            
          
            
          
            
          

          
 
  

          



    

  
 











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