第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類(lèi)
QT-6000 分立元件高速測(cè)試系統(tǒng)
QT-6000分立元件高速測(cè)試機(jī)，適用於測(cè)試中小功率二三極體、場(chǎng)效電晶體等產(chǎn)品及晶圓，可拓展內(nèi)建電容測(cè)試（DC+CAP）、EAS、VC、pA模組，也可擴(kuò)充外掛LCR( 超高精度電容測(cè)試)、Scanbox等，應(yīng)用於FT量產(chǎn)測(cè)試或?qū)嶒?yàn)室測(cè)試。
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懸浮電源 |
四象限電路 |
高速測(cè)試 |
支援多種擴(kuò)展 |
| 型號(hào) | QT-6000 |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) |
? QT-6000分立元件高速測(cè)試機(jī)，具備測(cè)試精度高、測(cè)試速度快、穩(wěn)定性好、可靠性高、抗干擾能力強(qiáng)等性能優(yōu)點(diǎn)。 ? 採(cǎi)用四象限電路，可以很好的保護(hù)被測(cè)元件。 ? 採(cǎi)用懸浮電源和全對(duì)稱(chēng)結(jié)構(gòu)。 ? 高速測(cè)試滿足UPH56K以上的分選機(jī)。 |
| 主要特點(diǎn) |
? 高速測(cè)試，UPH>40K ? 可一拖二實(shí)現(xiàn)100% FT+QA平行測(cè)試 ? 先進(jìn)的電容高速測(cè)試方案，實(shí)現(xiàn)CAP+DC同工位測(cè)試 ? 內(nèi)建UIS測(cè)試方案，實(shí)現(xiàn)DC+UIS同工位測(cè)試 ? LCR精準(zhǔn)電容測(cè)試，最小測(cè)試電容值100fF |
Testing standards檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
Recommend推薦產(chǎn)品
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